このたび、総研に設置されました走査形電子顕微鏡につきまして、 以下のとおり、取り扱い説明会を開催致します。

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７月２５日（火）
　 9:30〜12:00　　JSM-IT300LA走査電子顕微鏡の基礎的な取扱説明
　　　　　　　（パラメーター調整方法、高真空測定と低真空測定の使い分け、
　　　　　　　　　二次電子像と反射電子像の使い分け等）
　13:30〜16:00　　JSM-IT300LAを用いての個別対応
　　　　　　　　（個人の条件に合った調整の仕方など）

７月２６日（水）
　 9:30〜12:00　　EDS分析の正しい分析の仕方を中心に基礎的な座学講習
　13:30〜16:00　　EDS分析の基礎的な取扱説明

７月２７日（木）
　 9:30〜12:00　　JSM-7200F走査電子顕微鏡の応用的な取扱説明
　　　　　　　（エネルギーフィルターによる信号選別、GBSHによる低加速電圧測定）
　13:30〜16:00　　JSM-7200Fを用いての個別対応
　　　　　　　　（個人の条件に合った調整の仕方など）　
　　　　　

【会場】

【講師】
　　　　日本電子株式会社　
　　　　溜池 あかね　氏

【機器仕様等】

●JSM-IT300LA
・分解能：3.0nm(高真空,30kV)
：4.0nm(低真空,30kV)
・低真空機能：チャージアップし易いサンプルに有効な低真空機能付き
・エネルギー分散型X線分析搭載：元素分析が可能

●JSM-7200F
・FE銃による高分解能：1.0nm(高真空,30kV,GBSHモード)
　　　　　　　　　　　：1.6nm(高真空,1kV,GBSHモード)
・GBSHモードによる極低加速電圧測定
・エネルギーフィルターによる信号選別測定
・低真空機能：チャージアップし易いサンプルに有効な低真空機能付き
・エネルギー分散型X線分析搭載：元素分析が可能　


【製品HP】
https://www.jeol.co.jp/products/detail/JSM-7200F.html

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取り扱い説明会へ参加ご希望の方は、 sunei@kumamoto-u.ac.jp 宛に、 【 所属、氏名、内線 、参加希望回など】 を記載しお申し込みください。 尚、部屋の広さの都合上、参加される皆様方へ説明が行き届くようにする為にも、 人数を調整させ ていただきますので、あらかじめご了承願います。 参加の可否につきましては、締め切り後、メール にてご案内させて頂きます。

【参加希望受付期限】　　成29年7月19日(水)12:00まで
※予定人数に達した際は、期限前に締め切らせて頂く場合も有ります事を ご了承願います。
皆様のご参加を心よりお待ち致しております。

（以下、申し込み文）---------------------------------------------------------

走査形電子顕微鏡　取扱説明会参加希望
【所　属】
【氏　名】
【内　線】
【メールアドレス】
【参加希望回】IT300LA（取説／個別）
　　　　　　　EDS分析（講習／取説）
　　　　　　　7200F（取説／個別）
　　　　　　　※希望のものを残して下さい。
【備　考】