【受付終了】透過型電子顕微鏡(TEM)及び走査型顕微鏡(SEM)セミナーのお知らせ
予定人数に達した為、受付は終了しました。
標記説明会を下記日程にて開催致します。
皆様の御参加を心よりお待ちしております。
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【日時】 平成29年5月22日(月):機器の紹介14:30~15:30 透過型電子顕微鏡(JEM-1400PLUS)セミナー
15:45~16:45 走査型顕微鏡(JSM-IT300LA(一部JSM-7200F))セミナー
平成29年5月23日(火):実機取扱説明(JEM-1400PLUSのみ)
1回目 9:00〜11:30【受付終了】
2回目 13:00〜15:30【受付終了】
※同じ内容を2回開催します。
【会場】
セミナー:医学教育図書棟 4階第4講義室TEM(JEM-1400PLUS)取扱説明:医学総合研究棟 4階(404室)
【講師】
日本電子㈱EM事業ユニット EMアプリケーション部濱元千絵子:JEM-1400PLUSセミナー
日本電子㈱SM事業ユニット SMアプリケーション部
中嶌香織:JSM-IT300LA(一部JSM-7200F)セミナー
日本電子㈱EM事業ユニット EMアプリケーション部
濱元千絵子:TEM(JEM-1400PLUS)取扱説明
【JEM-1400PLUS概要】
透過電子顕微鏡(Transmission Electron Microscope:TEM)は、細胞内の微細構造観察から、蛋白質やウイルスの観察まで生物試料観察における重要ツールとして幅広く活用されています。
JEM-1400Plusは最新のsCMOSカメラを搭載し、その制御系を本体システムに統合していますので、初心者でも簡単に操作できるTEMになっています。本説明会では、ソフトの特長を交えながらJEM-1400Plusの基本操作をご説明させていただきます。
【実機取扱内容】
・JEM-1400Plusの基本操作
試料の挿入からデータ取得まで
【導入機器について】
https://www.jeol.co.jp/products/detail/JEM-1400Plus.html
https://www.jeol.co.jp/products/detail/JSM-IT300.html
https://www.jeol.co.jp/products/detail/JSM-7200F.html
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取り扱い説明会へ参加ご希望の方は、 sunei@kumamoto-u.ac.jp 宛に、以下の内容を記載しお申し込みください。
尚、部屋の広さの都合上、参加される皆様方へ説明が行き届くようにする為にも、 人数を調整させていただきますので、あらかじめご了承願います。 参加の可否につきましては、締め切り後、メールにてご案内させて頂きます。
【参加希望受付期限】 平成29年5月15日(月)12:00まで
※予定人数に達した際は、期限前に締め切らせて頂く場合も有ります事を ご了承願います。
皆様のご参加を心よりお待ち致しております。
(以下、申し込み文)---------------------------------------------------------
TEM 及び SEM セミナー参加希望
【所 属】
【氏 名】
【内 線】
【メールアドレス】
【参加希望回】
【備 考】